Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных...

Main
Оборудование и методы контроля...

Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов (190,00 руб.)

Волков А.В., Саноян А.Г., Бородин С.А., Агафонов А.Н.

0 / 0

Jak bardzo podobała Ci się ta książka?

Jaka jest jakość pobranego pliku?

Pobierz książkę, aby ocenić jej jakość

Jaka jest jakość pobranych plików?

Język:

russian

ISBN 10:

5788306272

ISBN 13:

9785788306278

Plik:

PDF, 1.47 MB

IPFS:

,

russian0

Czytaj Online

Trwa konwersja do

Konwersja do nie powiodła się

Możesz być zainteresowany

Бурцев — Применение ЭВМ при моделировании процессов термического напыления в вакууме

Вафин Д. Б. — Геометрическая оптика и фотометрия

Кашицын Александр Станиславович, Таланов Олег Львович, Марсова Светлана Евгеньевна — Оптика и квантовая физика

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Ситанов Д.В. — Методы исследования материалов и структур

Кудря О. Н. — Курс лекций по химии

Козик Е. С. — Устройство и работа электронного микроскопа JEOL JCM-6000 NEOSCOPE

Глущенко А. Г., Глущенко Е. П., Гончарова Г. Н., Жуков С. В., Поволж. гос. ун-т телекоммуникаций и информатики — Оптическое материаловедение. Материалы и оптические элементы в фотонике

Глущенко А. Г., Глущенко Е. П., Гончарова Г. Н., Жуков С. В., Поволж. гос. ун-т телекоммуникаций и информатики — Оптическое материаловедение. Материалы и технологии оптических элементов

А. Р. Хайруллин — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии

Беззубцева М.М., Волков В.С. — Нанотехнологии в энергетике

С.М. Бельский, Е.Б. Бобков, Ю.А. Мухин, В.Н. Соловьёв — Системы контроля геометрических параметров горячекатаных полос : учеб. пособие

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

М. А. Беджанян — Оптика. Атомная физика : лабораторный практикум

В.Д. Шашурин — Формирование гетероструктур наноприборов методом молекулярно-лучевой эпитаксии

Дашков М. В. — Входной контроль волоконно-оптического кабеля

Коровченко, Игорь Сергеевич — Основные понятия функциональной электроники. Полупроводниковая и диэлектрическая электроника. Магнитоэлектроника

Беджанян М. А., Гладких Д. В., Нечаева О. А., Куникин С. А. — Физика : лабораторный практикум. Направление подготовки 240700.62 (190301) – Биотехнология, 020400.62 (060301) – Биология, 020100.62 (040301) – Химия, 050302 – География. Бакалавриат

Жданова Наталья Владимировна — Микроэлектроника

Глушенко А. Г. — Конспект лекций по учебной дисциплине «Материалы и технологии интегральной оптики (инфокоммуникационных систем)»

Перунова — Изучение вакуумного диода

Филяк М. М. — Конструктивно-технологические основы микроэлектроники

Шорин — Оптика лазеров

Львова — Учетная политика организации: Рабочая тетрадь

Балабаева Р. Ф. — Интернет-экзамен по химии (80,00 руб.)

Преображенский М. Н. — Изучение законов фотоэлектрических эффектов (80,00 руб.)

Рудь Н. А. — Геометрическая оптика (80,00 руб.)

Путилин Сергей Анатольевич — Диагностика оборудования холодильных установок

Сандирова М. Н. — Рабочая тетрадь по спортивной метрологии

Глущенко А. Г. — Наноматериалы и нанотехнологии (240,00 руб.)

Козик Е. С. — Устройство и работа электронного микроскопа JEOL JCM-6000 NEOSCOPE (90,00 руб.)

Шорин — Оптика лазеров (190,00 руб.)

Кашицын Александр Станиславович, Таланов Олег Львович, Марсова Светлана Евгеньевна — Оптика и квантовая физика

Вартанов А. З. — Методы и приборы контроля окружающей среды и экологический мониторинг

Нарайкин О. С., Холевин В. В., Данилов И. И., Шалаев В. А. — Технология микросистемной техники. В 3 ч. Ч. 1. Методы микрообработки

Najbardziej popularne frazy

поверхности

aгентство

электронов

подложки

микрорельефа

измерения

контроля

элементов

жидкости

оптических

поверхность

подложек

позволяет

изображения

электроны

величина

контроль

травления

используется

микроскопа

материалов

определяется

электронного

вторичных

дискретизации

качестве

дифракционных

определить

отраженных

получения

расстояние

светового